Redoks
    Ana Sayfa English  English
Yükleniyor…
Sınırları Birlikte Aşalım

  Yüzey Analiz Sistemleri » Scanning Electron Microscope (SEM)  
 
Taramalı Elektron Mikroskopu + X-Ray Analizi
Scanning Electron Microscope with X-Ray Analysis





120 000 X e kadar büyütmeli görüntü alma


Aynı zamanda EDX-Ray ile yüzeyin element profilini çıkartma

Görüntü almak birkaç saniye

Tüm analiz birkaç dakika içinde

Sıvı azot kullanmayan X-Ray dedektör


Evex Mini-SEM


 
Thermo
LUM Gmbh KRUSS Inotech Anasys Goettfert Hysitron Evex Parker Balston
Dionex Copyright ©2009 Redoks Ltd. Şti
All Rights Reserved